巻号20(7);JULY 1981
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Japanese journal of applied physics 20(7);JULY 1981

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Japanese journal of applied physics20(7);JULY 1981

国立国会図書館請求記号
Z53-A375
国立国会図書館永続的識別子
info:ndljp/pid/11196067
資料種別
雑誌
出版者
Publication Office, Japanese Journal of Applied Physics, Faculty of Science, University of Tokyo
出版年
1981-07
刊行頻度
-
資料形態
デジタル
ページ数・大きさ等
30 cm
NDC
-
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資料に関する注記

所蔵巻次等:

1(1):1962.7 - 20(12):1981.12

刊行巻次:

1(1):1962.7 - 20(12):1981.12

一般注記:

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目次

  • CONTENTS/

  • Determination of the Atomic Scattering Factors of Germanium by Means of the Pendellösung-Beat Measurement Using White Radiations/Toshihiko TAKAMA ; Shin'ichi SATO/1183~

  • Formation and Recovery of Defects in Quenched β-Brass/Hiroyuki YAMAGUCHI ; Shuichi ISHII ; Yukiyoshi NAKANE ; Sho YOSHIDA/1191~

  • TEM Observation of Dark Defects Appearing in InGaAsP/InP Double-Heterostructure Light Emitting Diodes Aged at High Temperature/Osamu UEDA ; Satoshi KOMIYA ; Shigenobu YAMAKOSHI ; Tsuyoshi KOTANI/1201~

  • Causes of Thickness Non-Uniformity in Silicon Ribbon Crystals/Ekyo KURODA ; Masatoshi MATSUDA ; Michiyoshi MAKI/1211~

書誌情報

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デジタル

資料種別
雑誌
ISSN
0021-4922
ISSN-L
0021-4922
巻次・部編番号
20(7);JULY 1981
出版年月日等
1981-07
出版年(W3CDTF)
1981-07
刊行巻次・年月次
1(1):1962.7 - 20(12):1981.12
大きさ
30 cm