Journal of electron microscopy

• 資料種別: 雑誌
• ISSN: 0022-0744
• タイトル: Journal of electron microscopy
• 出版事項: Oxford : Published for the Japanese Society of Electron Microscopy by Oxford University Press
• 刊行状態: 刊行終了
• 刊行頻度: BiMonthly
• 数量: v
• 出版地（国名コード）: GB
• 本文の言語コード: eng
• NDLC: ZN33
• 一般注記: Vol.22, n.1-vol.45, n.6, published by Japanese Society of Electron Microscopy in Tokyo
• 雑誌記事索引採録期間: 国立国会図書館雑誌記事索引 23 (2) 1974.07～51 (6) 2002
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 所蔵巻次・年月次（所蔵事項）: v. 22, no. 1 (Mar. 1973)-v. 61, no. 6 (Dec. 2012)
• 請求記号: Z53-T76
• 改題前: 継続前 : 電子顕微鏡学会誌 (ISSN:0022-0744); https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R100000002-I000000015810
• 改題後: 継続後 : Microscopy (ISSN:2050-5698); https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R100000002-I024336909
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 000000129291; http://id.ndl.go.jp/bib/000000129291
• 目録規則: 日本目録規則1987年版改訂版
• 整理区分コード: 231