NGK Review(23);1999・12Overseas Ed

• 資料種別: 雑誌
• ISSN: 0386-5843
• ISSN-L: 0386-5843
• タイトル: NGK Review
• 巻次・部編番号: (23);1999・12
• 版: Overseas Ed
• 出版事項: Tokyo : NGK Insulators
• 出版年月日等: 1999-12
• 出版年（W3CDTF）: 1999-12
• 出版地（国名コード）: JP
• NDLC: ZN31
• 一般注記: Description based on the latest issue
• DOI: 10.11501/11024308; https://doi.org/10.11501/11024308
• 国立国会図書館永続的識別子: info:ndljp/pid/11024308; https://dl.ndl.go.jp/pid/11024308
• コレクション（個別）: 国立国会図書館デジタルコレクション > デジタル化資料 > 雑誌; https://dl.ndl.go.jp/collections/A00002
• 製作者: 国立国会図書館
• 製作年（W3CDTF）: 2018-03-09
• 受理日（W3CDTF）: 2018-01-15T18:35:56+09:00
• 記録形式（IMT）: image/jp2
• オンライン閲覧公開範囲: 国立国会図書館内限定公開
• デジタル化資料送信: 図書館・個人送信対象
• 遠隔複写可否（NDL）: 可
• 所蔵巻次・年月次（所蔵事項）: (1):1977.7 -
• 請求記号: Z53-V37
• 原資料（JPNO）: 10022832
• 掲載誌（国立国会図書館永続的識別子）: info:ndljp/pid/11028921; https://dl.ndl.go.jp/pid/11028921
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館デジタルコレクション; https://dl.ndl.go.jp

目次

contents/

Papers//1～62

Voltage and Temperature Distribution along Semiconducting Glaze Insulator Strings/Y. Mizuno ; K. Naito ; Y. Suzuki ; S. Mori ; Y. Nakashima ; M. Akizuki/1～5

Semiconducting Glaze Post Insulators/S. Matsui ; Y. Suzuki ; Y. Nakashima ; K. Sakamoto ; S. Mori ; K. Tsuge/6～11

Short-Circuit Testing of Overhead Line Components up to 100kA/T. Yamada ; K. Saito ; S. Ito ; Y. Nagata ; R. P. P. Smeets ; P. Knol/12～19