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Proceedings of Symposium on Dry Process 1999・11

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Proceedings of Symposium on Dry Process1999・11

国立国会図書館請求記号
Z63-B381
国立国会図書館永続的識別子
info:ndljp/pid/11019433
資料種別
雑誌
著者
-
出版者
Institute of Electrical Engineers of Japan
出版年
1999-11
資料形態
デジタル
刊行頻度
-
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資料に関する注記

所蔵巻次等:

7:1985 - 22:2000

刊行巻次:

[ ] - 22:2000

一般注記:

Description based on the latest issueTitle in Japanese: Dorai Purosesu Sinpozyumu

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目次

提供元:国立国会図書館デジタルコレクションヘルプページへのリンク
  • The 21st SYMPOSIUM ON DRY PROCESS PROGRAM = 第21回ドライプロセスシンポジウム プログラム//9~16

  • Thursday, November 11, 1999 = 11月11日(木)//~214

  • Session I SiO₂ Etching (I) = Session I SiO₂エッチング (I)//~62

  • I-1 <Invited Talk> Computational Studies of Electron-Impact Dissociation of Gases in Plasma Processing/Carl L. Winstead ; Chuo-Han Lee ; B. Vincent McKoy/1~7

  • I-2 Spatial Distribution Measurement of Absolute CFₓ Radical Densities in Plasma Using Novel System of Single-Path IRLAS Combined with LIF on the Identical Beam Path = I-2 同一光路型シングルパス赤外半導体レーザ吸収分光法・レーザ誘起蛍光システムを用いたプラズマ中のCFₓラジカル絶対密度空間分布測定/Masayuki Nakamura ; Masafumi Ito ; Masaru Hori ; Toshio Goto ; Nobuo Ishii/9~14

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書誌情報

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デジタル

資料種別
雑誌
巻次・部編番号
1999・11
出版年月日等
1999-11
出版年(W3CDTF)
1999-11
刊行巻次・年月次
[ ] - 22:2000
大きさ
28 cm
並列タイトル等
Dorai Purosesu Sinpozyumu
出版地(国名コード)
JP