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国立国会図書館デジタルコレクション
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目次
CONTENTS/
Semiconductors//221~
Morphology of Microdefects in As-Grown Thinned Silicon Crystals Observed by Synchrotron X-Radiation Plane-Wave Topography/Yoshinori CHIKAURA ; Masato IMAI/221~
Effect of In Impurity on the Electrical Properties of Amorphous Se₈₀Te₂₀/S. K. TRIPATHI ; R. ARORA ; A. KUMAR/226~
Amorphous Sillicon Thin-Film Transistors with SiOₓN[y]/SiNₓGate Insulatrors/Kouichi HIRANAKA ; Tadahisa YAMAGUCHI/229~
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書誌情報
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- 資料種別
- 雑誌
- ISSN
- 0021-4922
- ISSN-L
- 0021-4922
- 巻次・部編番号
- Part. 1Part. 129(2);FEBRUARY 1990
- 部編名
- Regular papers, brief communications & review papers : JJAP
- 出版年月日等
- 1990-02
- 出版年(W3CDTF)
- 1990-02