Sensitivity-enhanced electron holography with fringe scanning interferometry and its application to analysis of microscopic magnetic fields

• 資料種別: 博士論文
• タイトル: Sensitivity-enhanced electron holography with fringe scanning interferometry and its application to analysis of microscopic magnetic fields
• 著者・編者: 長谷川修司 [著]
• 著者標目: 長谷川, 修司 ハセガワ, シュウジ ( 01154186 )典拠
• 並列タイトル等: 縞走査干渉法による電子線ホログラフィの高感度化とそれによる微視的磁場の解析 シマ ソウサ カンショウホウ ニ ヨル デンシセン ホログラフィ ノ コウカンドカ ト ソレニ ヨル ビシテキ ジバ ノ カイセキ
• 授与機関名: 東京大学
• 授与年月日: 平成3年9月30日
• 授与年月日（W3CDTF）: 1991
• 報告番号: 乙第10370号
• 学位: 博士 (理学)
• 学位論文注記: 博士論文
• 出版地（国名コード）: JP
• NDLC: UT51
• 一般注記: 博士論文
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: UT51-93-P220
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 000000262328; http://id.ndl.go.jp/bib/000000262328
• 整理区分コード: 213

目次

Contents

Chapter1 Introduction

1.1 Historical background

1.2 Present work

Chapter2 Electron wave and electron holography