Microscopic contact electrification on a thin silicon oxide studied by atomic force microscopy

• 資料種別: 博士論文
• タイトル: Microscopic contact electrification on a thin silicon oxide studied by atomic force microscopy
• 著者・編者: 深野善信 [著]
• 著者標目: 深野, 善信 フカノ, ヨシノブ
• 並列タイトル等: 原子間力顕微鏡によるシリコン酸化膜への微視的な接触帯電の研究 ゲンシカンリョク ケンビキョウ ニ ヨル シリコン サンカマク エ ノ ビシテキナ セッショク タイデン ノ ケンキュウ
• 授与機関名: 広島大学
• 授与年月日: 平成7年3月24日
• 授与年月日（W3CDTF）: 1995
• 報告番号: 甲第1325号
• 学位: 博士 (理学)
• 学位論文注記: 博士論文
• 出版地（国名コード）: JP
• NDLC: UT51
• 一般注記: 博士論文
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: UT51-95-W38
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 000000290443; http://id.ndl.go.jp/bib/000000290443
• 整理区分コード: 213

目次

Abstract

Contents

CHAPTER 1 Introduction

CHAPTER 2 Electrostatic Force Measurement Using an Atomic Force Microscope

2.1 Principle and Basic Operation of AFM in Contact Static Mode