In-situ characterization of Ⅲ-Ⅴ compound semiconductor surfaces by scanning tunneling microscopy and X-ray photoelectron spectroscopy
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国立国会図書館デジタルコレクション
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目次
Contents
p6
Dedication
p3
Acknowledgments
p4
Chapter1 Introduction
p1
1.1 Historical Background
p1
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書誌情報
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- 資料種別
- 博士論文
- 著者・編者
- 石川靖彦 [著]
- 著者標目
- 石川, 靖彦 イシカワ, ヤスヒコ
- 並列タイトル等
- 走査トンネル顕微鏡およびX線光電子分光法によるⅢ-Ⅴ族化合物半導体表面のその場観察 ソウサ トンネル ケンビキョウ オヨビ Xセン コウデンシ ブンコウホウ ニ ヨル 3-5 ゾク カゴウブツ ハンドウタイ ヒョウメン ノ ソノバ カンサツ
- 授与機関名
- 北海道大学
- 授与年月日
- 平成10年3月25日
- 授与年月日（W3CDTF）
- 1998
- 報告番号
- 甲第4423号
- 学位
- 博士 (工学)