Scanning tunneling microscopy/ballistic electron emission microscopy studies on semiconductor heterostructures

• 資料種別: 博士論文
• タイトル: Scanning tunneling microscopy/ballistic electron emission microscopy studies on semiconductor heterostructures
• 著者・編者: 角谷透 [著]
• 著者標目: 角谷, 透 スミヤ, トオル
• 並列タイトル等: 半導体ヘテロ構造の走査トンネル顕微鏡/弾道電子放射顕微鏡による研究 ハンドウタイ ヘテロ コウゾウ ノ ソウサ トンネル ケンビキョウ
• 授与機関名: 新潟大学
• 授与年月日: 平成10年3月12日
• 授与年月日（W3CDTF）: 1998
• 報告番号: 乙第1625号
• 学位: 博士 (理学)
• 学位論文注記: 博士論文
• 出版地（国名コード）: JP
• NDLC: UT51
• 一般注記: 博士論文
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: UT51-98-U384
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 000000327593; http://id.ndl.go.jp/bib/000000327593
• 整理区分コード: 213

目次

Contents

Chapter1 Introduction

Chapter2 Theories of STM and BEEM

2.1 Mechanism of STM

2.2 Mechanism of BEEM