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Basic research of the atomic force microscope for industrial use

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Basic research of the atomic force microscope for industrial use

国立国会図書館請求記号
UT51-98-Y372
国立国会図書館書誌ID
000000329871
国立国会図書館永続的識別子
info:ndljp/pid/3144680
資料種別
博士論文
著者
安武正敏 [著]
出版者
-
出版年
-
資料形態
紙・デジタル
ページ数・大きさ等
-
授与大学名・学位
東京工業大学,博士 (工学)
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目次

  • 論文目録

  • CONTENTS

    p2

  • Chapter1 General introduction

    p6

  • 1-1 History of scanning probe microscopes

    p7

  • 1-2 Requirement of AFM for industrial use

    p9

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書誌情報

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デジタル

資料種別
博士論文
著者・編者
安武正敏 [著]
著者標目
安武, 正敏 ヤスタケ, マサトシ
並列タイトル等
工業用途のAFMへの基礎的研究 コウギョウ ヨウト ノ AFM エ ノ キソテキ ケンキュウ
授与機関名
東京工業大学
授与年月日
平成9年9月30日
授与年月日(W3CDTF)
1997
報告番号
乙第3091号
学位
博士 (工学)