飛行時間型二次イオン質量分析法の有機表面解析への応用
図書館・個人送信サービスを利用する
収録元データベースで確認する
国立国会図書館デジタルコレクション
国立国会図書館の登録利用者（本登録）の方を対象とした、個人送信サービスで閲覧可能です。ただし、日本国外に居住している場合は、個人送信サービスを利用できません。
書店で探す
障害者向け資料で読む
目次
提供元：国立国会図書館デジタルコレクションヘルプページへのリンク
-目次-
第1章 序論
p1
1.1 はじめに
p1
1.2 TOF-SIMSの原理･特徴と研究動向
p1
1.3 工業製品への応用に関する既存の研究と課題
p12
書店で探す
障害者向け資料で読む
- みなサーチ
- プレーンテキスト
みなサーチに登録・ログインで利用できます
書誌情報
この資料の詳細や典拠（同じ主題の資料を指すキーワード、著者名）等を確認できます。
- 資料種別
- 博士論文
- タイトルよみ
- ヒコウ ジカンガタ ニジ イオン シツリョウ ブンセキホウ ノ ユウキ ヒョウメン カイセキ エ ノ オウヨウ
- 著者・編者
- 村瀬篤 [著]
- 著者標目
- 村瀬, 篤 ムラセ, アツシ
- 出版事項
- 出版年月日等
- 2001
- 出版年（W3CDTF）
- 2001
- 数量
- 1冊
- 授与機関名
- 富山大学