Hot Wall Epitaxy and Characterization of High Quality ZnTe and Cd0.96 Zn0.04 Te Films on(100)GaAs

• 資料種別: 博士論文
• タイトル: Hot Wall Epitaxy and Characterization of High Quality ZnTe and Cd0.96 Zn0.04 Te Films on(100)GaAs
• 著者・編者: 金秉冑 [著]
• 著者標目: 金, 秉冑 キム, ビョンジュ
• 出版事項: [金秉冑]
• 出版年月日等: [2001]
• 出版年（W3CDTF）: 2001
• 数量: 1冊
• 並列タイトル等: 高品位ZnTe及びCd0.96 Zn0.04 Te薄膜の(100)GaAs基板上へのホットウォールエピタキシーとその評価 コウヒンイ ZnTe オヨビ Cd0.96 Zn0.04 Te ハクマク ノ ( 100 ) GaAs キバン ジョウ エ ノ ホット ウォール エピタキシー ト ソノ ヒョウカ
• 授与機関名: 東北大学
• 授与年月日: 平成13年3月26日
• 授与年月日（W3CDTF）: 2001
• 報告番号: 甲第8003号
• 学位: 博士 (工学)
• 学位論文注記: 博士論文
• 出版地（国名コード）: JP
• 本文の言語コード: eng
• NDLC: UT51
• 一般注記: 博士論文
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: UT51-2001-N782
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 000000409668; http://id.ndl.go.jp/bib/000000409668
• 整理区分コード: 213

目次

Contents

Chapter 1 Introduction

1.1 Needs of high quality II-VI epilayers

1.2 Lattice strain in hetero-epilayers

1.3 Hetero-epitaxial growth of ZnTe and CdZnTe on GaAs