本文に飛ぶ
図書

半導体デバイス信頼性設計の要点 (エレクトロニクスエッセンシャルズシリーズ ; no.19)

図書を表すアイコン
表紙は所蔵館によって異なることがあります ヘルプページへのリンク

半導体デバイス信頼性設計の要点(エレクトロニクスエッセンシャルズシリーズ ; no.19)

国立国会図書館請求記号
ND371-203
国立国会図書館書誌ID
000001804121
国立国会図書館永続的識別子
info:ndljp/pid/12599204
資料種別
図書
著者
日本工業技術センター
出版者
日本工業技術センター
出版年
1986.4
資料形態
紙・デジタル
ページ数・大きさ等
307p ; 27cm
NDC
549.8
すべて見る

資料に関する注記

一般注記:

監修: 去来川正明

書店で探す

障害者向け資料で読む

全国の図書館の所蔵

国立国会図書館以外の全国の図書館の所蔵状況を表示します。

所蔵のある図書館から取寄せることが可能かなど、資料の利用方法は、ご自身が利用されるお近くの図書館へご相談ください

関東

障害者向け資料で読む

書誌情報

この資料の詳細や典拠(同じ主題の資料を指すキーワード、著者名)等を確認できます。

デジタル

資料種別
図書
タイトルよみ
ハンドウタイ デバイス シンライセイ セッケイ ノ ヨウテン
著者標目
日本工業技術センター ニホン コウギョウ ギジュツ センター ( 00294090 )典拠
出版年月日等
1986.4
出版年(W3CDTF)
1986
数量
307p
大きさ
27cm