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電子・電気部品の試験法 : MIL-STD-202F

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電子・電気部品の試験法 : MIL-STD-202F

国立国会図書館請求記号
M361-169
国立国会図書館書誌ID
000001810196
国立国会図書館永続的識別子
info:ndljp/pid/12607190
資料種別
図書
著者
関西電子工業振興センター規格情報分科会202WG [訳]
出版者
日本規格協会
出版年
1986.7
資料形態
紙・デジタル
ページ数・大きさ等
206p ; 21cm
NDC
542.072
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資料に関する注記

一般注記:

監修: 関西電子工業振興センター規格情報分科会202WG原タイトル: Military standard,MIL-STD-202F 1 April 1980:test methods for electronic and electrical component parts

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書誌情報

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デジタル

資料種別
図書
ISBN
4-542-40117-0
タイトルよみ
デンシ デンキ ブヒン ノ シケンホウ
著者・編者
関西電子工業振興センター規格情報分科会202WG [訳]
著者標目
関西電子工業振興センター カンサイ デンシ コウギョウ シンコウ センター ( 00286337 )典拠
出版年月日等
1986.7
出版年(W3CDTF)
1986
数量
206p