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半導体デバイスの品質認証のための共通仕様書に関するガイドライン

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半導体デバイスの品質認証のための共通仕様書に関するガイドライン

国立国会図書館請求記号
ND371-E61
国立国会図書館書誌ID
000002029907
資料種別
図書
著者
日本電子部品信頼性センター
出版者
日本電子部品信頼性センター
出版年
1989.3
資料形態
ページ数・大きさ等
27p ; 30cm
NDC
549.8
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資料種別
図書
タイトルよみ
ハンドウタイ デバイス ノ ヒンシツ ニンショウ ノ タメノ キョウツウ シヨウショ ニ カンスル ガイドライン
著者標目
日本電子部品信頼性センター ニホン デンシ ブヒン シンライセイ センター ( 00293467 )典拠
出版年月日等
1989.3
出版年(W3CDTF)
1989
数量
27p
大きさ
30cm
出版地(国名コード)
JP