材料評価のための分析電子顕微鏡法

• 資料種別: 図書
• ISBN: 4-320-08524-8
• タイトル: 材料評価のための分析電子顕微鏡法
• タイトルよみ: ザイリョウ ヒョウカ ノ タメノ ブンセキ デンシ ケンビキョウホウ
• 著者・編者: 進藤大輔, 及川哲夫 共著
• 著者標目: 進藤, 大輔, 1953- シンドウ, ダイスケ, 1953- ( 00421596 )典拠; 及川, 哲夫, 1951- オイカワ, テツオ, 1951- ( 00733562 )典拠
• 出版事項: 東京 : 共立出版
• 出版年月日等: 1999.5
• 出版年（W3CDTF）: 1999
• 数量: 182p
• 大きさ: 26cm
• 出版地（国名コード）: JP
• 本文の言語コード: jpn
• 件名標目: 材料試験 ザイリョウシケン ( 00574552 )典拠; 電子顕微鏡 デンシケンビキョウ ( 00561446 )典拠
• NDC9版: 501.55 : 工業基礎学
• NDLC: M217
• 対象利用者: 一般
• 入手条件・定価: 3900円
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: M217-G14
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 000002788142; http://id.ndl.go.jp/bib/000002788142
• 全国書誌番号: 99095811
• 目録規則: 日本目録規則1987年版改訂版
• 整理区分コード: 111

• DOI: 10.11501/14163143; https://doi.org/10.11501/14163143
• 国立国会図書館永続的識別子: info:ndljp/pid/14163143; https://dl.ndl.go.jp/pid/14163143
• コレクション（共通）: 障害者向け資料
• コレクション（障害者向け資料：レベル1）: テキストデータ
• コレクション（障害者向け資料：レベル2）: プレーンテキスト
• コレクション（個別）: 国立国会図書館デジタルコレクション > デジタル化資料 > 図書; https://dl.ndl.go.jp/collections/A00001
• 製作者: 国立国会図書館
• 製作年（W3CDTF）: 2024-11-01
• 公開開始日（W3CDTF）: 2025-05-13
• 受理日（W3CDTF）: 2025-04-08T23:23:50+09:00
• 記録形式（IMT）: image/jp2
• 入手条件・定価: 3900円
• オンライン閲覧公開範囲: 国立国会図書館内限定公開
• デジタル化資料送信: 図書館・個人送信対象外
• 遠隔複写可否（NDL）: 可
• 請求記号: M217-G14
• 原資料（JPNO）: 99095811
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館デジタルコレクション; https://dl.ndl.go.jp

• 要約等: 21世紀の新しい科学技術を支える先端材料を開発する上で、その構造を理解することは、基礎的に最も重要である。 多層膜や傾斜機能材料において、その特性を理解するためには、ナノエリアでの構造と組成を正確に知ることが必須である。この微小領域における構造と組成の解析手段として、高い分解能（～0.1nm）特性と...

目次

1章　分析電子顕微鏡法の基礎

1.1　電子の散乱

1.2　電子の非弾性散乱と分析電子顕微鏡法

1.3　コンピュータによる機器制御と分析データ処理

2章　分析電子顕微鏡の構成と基本操作