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Particle characterization in technology / editor, John Keith Beddow. (CRC series on fine particle science and technology) (Uniscience series on fine particle science and technology)

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Particle characterization in technology / editor, John Keith Beddow.

(CRC series on fine particle science and technology) (Uniscience series on fine particle science and technology)

国立国会図書館請求記号
PA151-A7
国立国会図書館書誌ID
000003120530
資料種別
図書
著者
Beddow, John K.
出版者
CRC Press
出版年
c1984.
資料形態
紙
ページ数・大きさ等
2 v. : ill. (some col.) ; 27 cm.
NDC
-
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資料詳細

内容細目：

v. 1. Applications and microanalysisv. 2. Morphological analysis.（提供元: 国立国会図書館蔵書）

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書誌情報

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紙

資料種別
図書
ISBN
0849357845 (v. 1)
0849357853 (v. 2)
タイトル
Particle characterization in technology / editor, John Keith Beddow.
シリーズタイトル
CRC series on fine particle science and technology
Uniscience series on fine particle science and technology
著者標目
Beddow, John K.
出版事項
Boca Raton, Fla. : CRC Press
出版年月日等
c1984.
出版年（W3CDTF）
1984
数量
2 v. : ill. (some col.) ; 27 cm.
出版地（国名コード）
US