UNTERSUCHUNGEN AN Ge(Li)-PIN-DIODEN; 1 : DIE BESTIMMUNG VON HALBLEITERPARAMETERN IN Ge-PIN-DETEKTOREN MIT DER ELEKTONENSONDE. 2 : UNTERSUCHUNGEN UBER DIE TRAGERREKOMBINATION IN INTRINSICGERMANIUM BEI TIEFEN TEMPERATUREN
この資料の詳細や典拠(同じ主題の資料を指すキーワード、著者名)等を確認できます。