18th IEEE VLSI test symposium : Apr 2000, Montreal, Canada.

• 資料種別: 図書
• ISBN: 0769506135 (pbk); 0769506151 (microfiche)
• ISSN: 1093-0167
• タイトル: 18th IEEE VLSI test symposium : Apr 2000, Montreal, Canada.
• 著者標目: IEEE. Computer Society. Test Technology Technical Council.
• 出版事項: IEEE Computer Society Press
• 出版年月日等: 2000.
• 出版年（W3CDTF）: 2000
• 数量: v.
• 並列タイトル等: VLSI ; IEEE ; test technology ; VTS
• NDLC: M17
• 一般注記: Papers.; Index term: VLSI ; IEEE ; test technology ; VTS.; BL shelfmark: 4363.2365 18th 2000.
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: M17-00-1988
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 000003448504; http://id.ndl.go.jp/bib/000003448504
• UKMARC番号: G06029714
• 整理区分コード: 215