2000 IEEE international reliability physics symposium proceedings -- International reliability physics symposium : 38th : Apr 2000, San Jose, CA.

• 資料種別: 図書
• ISBN: 0780358619 (casebound); 0780358600 (softbound); 0780358627 (microfiche)
• タイトル: 2000 IEEE international reliability physics symposium proceedings -- International reliability physics symposium : 38th : Apr 2000, San Jose, CA.
• 著者標目: IEEE. Electron Devices Society.; IEEE. Reliability Society.
• 出版事項: IEEE
• 出版年月日等: 2000.
• 出版年（W3CDTF）: 2000
• 数量: v.
• 並列タイトル等: Held on fiche. IEEE cat no 00CM37059; reliability physics ; IEEE ; electron devices
• 資料種別（注記）: [microform]
• NDLC: M17
• 一般注記: Papers.; Held on fiche. IEEE cat no 00CM37059.; Index term: reliability physics ; IEEE ; electron devices.; BL shelfmark: 4362.96512 38th 2000.
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: M17-01-2053-LS
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 000003450857; http://id.ndl.go.jp/bib/000003450857
• UKMARC番号: G06029711
• 整理区分コード: 215