Fundamental electron and ion beam interactions with solids for microscopy, microanalysis and microlithography : 8th Pfefferkorn conference : May 1989, Park City, UT. (Scanning Microscopy Supplement ; 4)

Fundamental electron and ion beam interactions with solids for microscopy, microanalysis and microlithography : 8th Pfefferkorn conference : May 1989, Park City, UT.

(Scanning Microscopy Supplement ; 4)

国立国会図書館請求記号: M17-93-0696
国立国会図書館書誌ID: 000003488973

資料種別: 図書

著者: Scanning Microscopy International.

出版者: Scanning Microscopy International

出版年: 1990.

資料形態: 紙

ページ数・大きさ等: v.

NDC: -

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資料に関する注記

一般注記：: Papers.Index term: microscopy ; scanning microscopy ; Pfefferkorn ; fundamental electron beam interactions.BL shelfmark: 8087.70533 suppl 4 1990.

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書誌情報

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紙

資料種別: 図書
ISBN: 0931288460
ISSN: 0892-953X
タイトル: Fundamental electron and ion beam interactions with solids for microscopy, microanalysis and microlithography : 8th Pfefferkorn conference : May 1989, Park City, UT.
シリーズタイトル: Scanning Microscopy Supplement ; 4
著者標目: Scanning Microscopy International.
出版事項: Scanning Microscopy International
出版年月日等: 1990.
出版年（W3CDTF）: 1990
数量: v.
並列タイトル等: microscopy ; scanning microscopy ; Pfefferkorn ; fundamental electron beam interactions
NDLC: M17
MC
一般注記: Papers.
Index term: microscopy ; scanning microscopy ; Pfefferkorn ; fundamental electron beam interactions.
BL shelfmark: 8087.70533 suppl 4 1990.
所蔵機関: 国立国会図書館
請求記号: M17-93-0696
連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書
https://ndlsearch.ndl.go.jp
書誌ID（NDLBibID）: 000003488973
http://id.ndl.go.jp/bib/000003488973
UKMARC番号: G01648899
整理区分コード: 215