1st Asian test symposium : Nov 1992, Hiroshima, Japan.

著者: Institute of Electrical and Electronics Engineers. Computer Society. Test Technology Technical Committee.

資料に関する注記

一般注記：: Papers.Also known as ATS'92. IEEE cat no 92TH0458-0.Index term: test ; ATS ; IEEE....

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資料種別: 図書
ISBN: 0818629851 (pbk)
081862986X (microfiche)
0818629878 (case)
タイトル: 1st Asian test symposium : Nov 1992, Hiroshima, Japan.
著者標目: Institute of Electrical and Electronics Engineers. Computer Society. Test Technology Technical Committee.
出版事項: IEEE Computer Society Press
出版年月日等: 1992.
出版年（W3CDTF）: 1992
数量: v.
並列タイトル等: Also known as ATS'92. IEEE cat no 92TH0458-0
test ; ATS ; IEEE
NDLC: M17
ND
一般注記: Papers.
Also known as ATS'92. IEEE cat no 92TH0458-0.
Index term: test ; ATS ; IEEE.
BL shelfmark: 1742.75045 1st 1992.
所蔵機関: 国立国会図書館
請求記号: M17-94-0817
連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書
https://ndlsearch.ndl.go.jp
書誌ID（NDLBibID）: 000003493820
http://id.ndl.go.jp/bib/000003493820
UKMARC番号: G02089420
整理区分コード: 215