2nd Asian test symposium : Nov 1993, Beijing, China.

著者: Institute of Electrical and Electronics Engineers. Computer Society. Test Technology Technical Committee.

資料に関する注記

一般注記：: Papers.Also known as ATS'93. IEEE cat no 93TH0564-5.Index term: test ; ATS ; IEEE.

書店で探す

この資料の詳細や典拠（同じ主題の資料を指すキーワード、著者名）等を確認できます。

資料種別: 図書
ISBN: 081863930X (pbk)
0818639318 (microfiche)
タイトル: 2nd Asian test symposium : Nov 1993, Beijing, China.
著者標目: Institute of Electrical and Electronics Engineers. Computer Society. Test Technology Technical Committee.
数量: v.
並列タイトル等: Also known as ATS'93. IEEE cat no 93TH0564-5
test ; ATS ; IEEE
NDLC: M17
ND
一般注記: Papers.
Also known as ATS'93. IEEE cat no 93TH0564-5.
Index term: test ; ATS ; IEEE.
所蔵機関: 国立国会図書館
請求記号: M17-94-1548
連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書
https://ndlsearch.ndl.go.jp
書誌ID（NDLBibID）: 000003494543
http://id.ndl.go.jp/bib/000003494543
整理区分コード: 215