Reliability and maintainability Annual symposium : Jan 1994, Anaheim, CA.

• 資料種別: 図書
• ISBN: 0780317866 (pbk); 0780317874; 0780317882 (microfiche)
• ISSN: 0149-144X
• タイトル: Reliability and maintainability Annual symposium : Jan 1994, Anaheim, CA.
• 著者標目: Institute of Electrical and Electronics Engineers.; American Institute of Industrial Engineers.
• 出版事項: IEEE
• 出版年月日等: 1994.
• 出版年（W3CDTF）: 1994
• 数量: v.
• 並列タイトル等: Theme: Reliability & maintainability-the next generation. Held on fiche. IEEE cat no 94CM3391-0; IEEE ; AIIE ; reliability ; maintainability
• 資料種別（注記）: [microform]
• NDLC: M17; M271
• 一般注記: Papers.; Theme: Reliability & maintainability-the next generation. Held on fiche. IEEE cat no 94CM3391-0.; Index term: IEEE ; AIIE ; reliability ; maintainability.; BL shelfmark: 6842.2005 1994.
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: M17-94-2299-LS
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 000003496258; http://id.ndl.go.jp/bib/000003496258
• UKMARC番号: G02231496
• 整理区分コード: 215