3rd Asian test symposium : Nov 1994, Nara, Japan.

著者: Institute of Electrical and Electronics Engineers. Computer Society. Test Technology Technical Committee.

資料に関する注記

一般注記：: Papers.Also known as ATS'94. IEEE cat no 94TH8016.Index term: test ; ATS ; IEEE.

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資料種別: 図書
ISBN: 0818666900
タイトル: 3rd Asian test symposium : Nov 1994, Nara, Japan.
著者標目: Institute of Electrical and Electronics Engineers. Computer Society. Test Technology Technical Committee.
数量: v.
並列タイトル等: Also known as ATS'94. IEEE cat no 94TH8016
test ; ATS ; IEEE
NDLC: M17
ND
一般注記: Papers.
Also known as ATS'94. IEEE cat no 94TH8016.
Index term: test ; ATS ; IEEE.
所蔵機関: 国立国会図書館
請求記号: M17-95-0892
連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書
https://ndlsearch.ndl.go.jp
書誌ID（NDLBibID）: 000003497091
http://id.ndl.go.jp/bib/000003497091
整理区分コード: 215