14th VLSI test symposium : Apr 1996, Princeton, NJ.

著者: Institute of Electrical and Electronics Engineers. Computer Society. Technical Committee on Test Technology.ほか

資料に関する注記

一般注記：: Papers.Theme: Test technology for built-in quality. IEEE cat no 96TB100043.Index term: VLSI test ; IEEE ; test technology....

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資料種別: 図書
ISBN: 0818673044 (pbk)
0818673060 (microfiche)
タイトル: 14th VLSI test symposium : Apr 1996, Princeton, NJ.
著者標目: Institute of Electrical and Electronics Engineers. Computer Society. Technical Committee on Test Technology.
Institute of Electrical and Electronics Engineers. Philadelphia Section.
出版事項: IEEE Computer Society Press
出版年月日等: 1996.
出版年（W3CDTF）: 1996
数量: v.
並列タイトル等: Theme: Test technology for built-in quality. IEEE cat no 96TB100043
VLSI test ; IEEE ; test technology
NDLC: M17
ND
一般注記: Papers.
Theme: Test technology for built-in quality. IEEE cat no 96TB100043.
Index term: VLSI test ; IEEE ; test technology.
BL shelfmark: 4363.2365 14th 1996.
所蔵機関: 国立国会図書館
請求記号: M17-96-2324
連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書
https://ndlsearch.ndl.go.jp
書誌ID（NDLBibID）: 000003501561
http://id.ndl.go.jp/bib/000003501561
UKMARC番号: G05142269
整理区分コード: 215