7th Asian test symposium : Dec 1998, Singapore.

著者: Institute of Electrical and Electronics Engineers. Computer Society. Test Technology Technical Committee (TTTC)ほか

資料に関する注記

一般注記：: Selected papers and abstracts.Also known as ATS' 98. IEEE cat no 98TB100259.Index term: IEEE ; ATS ; test....

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資料種別: 図書
ISBN: 0818682779 (pbk)
0818682795 (microfiche)
ISSN: 1081-7735
タイトル: 7th Asian test symposium : Dec 1998, Singapore.
著者標目: Institute of Electrical and Electronics Engineers. Computer Society. Test Technology Technical Committee (TTTC)
Institute of Electrical and Electronics Engineers. Singapore Section. Computer Chapter.
Singapore Polytechnic.
出版事項: IEEE
出版年月日等: 1998.
出版年（W3CDTF）: 1998
数量: v.
並列タイトル等: Also known as ATS' 98. IEEE cat no 98TB100259
IEEE ; ATS ; test
NDLC: M17
ND
一般注記: Selected papers and abstracts.
Also known as ATS' 98. IEEE cat no 98TB100259.
Index term: IEEE ; ATS ; test.
BL shelfmark: 6842.48614 7th 1998.
所蔵機関: 国立国会図書館
請求記号: M17-99-2166
連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書
https://ndlsearch.ndl.go.jp
書誌ID（NDLBibID）: 000003509747
http://id.ndl.go.jp/bib/000003509747
UKMARC番号: G05695913
整理区分コード: 215