Memory technology, design and testing : 7th International workshop : Aug 1999, San Jose, CA.

著者: Institute of Electrical and Electronics Engineers. Computer Society. Technical Committee on VLSI.ほか

資料に関する注記

一般注記：: Selected papers and abstract.Also known as MTDT '99.Index term: memory technology ; MTDT ; IEEE....

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資料種別: 図書
ISBN: 0769502598 (pbk)
076950261X (microfiche)
ISSN: 1087-4852
タイトル: Memory technology, design and testing : 7th International workshop : Aug 1999, San Jose, CA.
著者標目: Institute of Electrical and Electronics Engineers. Computer Society. Technical Committee on VLSI.
Institute of Electrical and Electronics Engineers. Computer Society. Technical Council on Test Technology.
出版事項: IEEE Computer Society
出版年月日等: 1999.
出版年（W3CDTF）: 1999
数量: v.
並列タイトル等: Also known as MTDT '99
memory technology ; MTDT ; IEEE
NDLC: M17
M164
一般注記: Selected papers and abstract.
Also known as MTDT '99.
Index term: memory technology ; MTDT ; IEEE.
BL shelfmark: 4552.1945 1999.
所蔵機関: 国立国会図書館
請求記号: M17-99-2188
連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書
https://ndlsearch.ndl.go.jp
書誌ID（NDLBibID）: 000003509769
http://id.ndl.go.jp/bib/000003509769
UKMARC番号: G05873696
整理区分コード: 215