Conduction and breakdown in solid dielectrics 6th International conference : Jun 1998, Vasteras, Sweden.

著者: Institute of Electrical and Electronics Engineers. Dielectrics and Electrical Insulation Society.ほか

資料に関する注記

一般注記：: Papers.Also known as ICSD '98. Held on fiche. IEEE cat no 98CM36132.Index term: conduction ; solid dielectrics ; ICSD ; IEEE....

書店で探す

この資料の詳細や典拠（同じ主題の資料を指すキーワード、著者名）等を確認できます。

資料種別: 図書
ISBN: 0780342372 (softbound)
0780342380 (casebound)
0780342399 (microfiche)
タイトル: Conduction and breakdown in solid dielectrics 6th International conference : Jun 1998, Vasteras, Sweden.
著者標目: Institute of Electrical and Electronics Engineers. Dielectrics and Electrical Insulation Society.
ABB Corporate Research.
出版事項: IEEE
出版年月日等: 1998.
出版年（W3CDTF）: 1998
数量: v.
並列タイトル等: Also known as ICSD '98. Held on fiche. IEEE cat no 98CM36132
conduction ; solid dielectrics ; ICSD ; IEEE
資料種別（注記）: [microform]
NDLC: M17
ND
一般注記: Papers.
Also known as ICSD '98. Held on fiche. IEEE cat no 98CM36132.
Index term: conduction ; solid dielectrics ; ICSD ; IEEE.
BL shelfmark: 6844.557 6th 1998.
所蔵機関: 国立国会図書館
請求記号: M17-99-0941-LS
連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書
https://ndlsearch.ndl.go.jp
書誌ID（NDLBibID）: 000003510862
http://id.ndl.go.jp/bib/000003510862
UKMARC番号: G05659565
整理区分コード: 215