Electron beam ion sources and traps and their applications : 8th international symposium : EBIS/T 2000 : Upton, New York : 5-8 November 2000. : Nov 2000, Upton, NY. (AIP Conference Proceedings ; 572)

Electron beam ion sources and traps and their applications : 8th international symposium : EBIS/T 2000 : Upton, New York : 5-8 November 2000. : Nov 2000, Upton, NY.

(AIP Conference Proceedings ; 572)

国立国会図書館請求記号: M17-03-1929
国立国会図書館書誌ID: 000004177287

資料種別: 図書

著者: Prelec, Krsto.ほか

出版者: American Institute of Physics

出版年: c2001.

資料形態: 紙

ページ数・大きさ等: xiv, 304 p. : ill. ; 25 cm.

NDC: -

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一般注記：: Papers.

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書誌情報

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紙

資料種別: 図書
ISBN: 0735400113
ISSN（シリーズ）: 0094-243X
タイトル: Electron beam ion sources and traps and their applications : 8th international symposium : EBIS/T 2000 : Upton, New York : 5-8 November 2000. : Nov 2000, Upton, NY.
シリーズタイトル: AIP Conference Proceedings ; 572
タイトル標目: American Institute of Physics. Conference proceedings ; no. 572.
著者標目: Prelec, Krsto.
International Symposium on Electron Beam Ion Sources and Traps and their Applications (8th : 2000 : Upton, N.Y.)
出版事項: Melville : American Institute of Physics
出版年月日等: c2001.
出版年（W3CDTF）: 2001
数量: xiv, 304 p. : ill. ; 25 cm.
出版地（国名コード）: US
本文の言語コード: eng
件名標目: Ion sources -- Congresses.
Electron beams -- Congresses.
LCC: QC702.3
DDC: 539.7/3
NDLC: M17
一般注記: Papers.
書誌注記: Includes bibliographical references and author index.
所蔵機関: 国立国会図書館
請求記号: M17-03-1929
連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書
https://ndlsearch.ndl.go.jp
書誌ID（NDLBibID）: 000004177287
http://id.ndl.go.jp/bib/000004177287
LC control number: 2001091142
https://lccn.loc.gov/2001091142
RLIN番号: CLBI02-B11
整理区分コード: 215