2001 IEEE international workshop on memory technology, design and testing : proceedings : August 6-7, 2001 : San Jose, California, USA. : MTDT 2001 : Aug 2001, San Jose, CA. (Memory Technology, Design and Testing)

2001 IEEE international workshop on memory technology, design and testing : proceedings : August 6-7, 2001 : San Jose, California, USA. : MTDT 2001 : Aug 2001, San Jose, CA.

(Memory Technology, Design and Testing)

国立国会図書館請求記号: M17-03-2017
国立国会図書館書誌ID: 000004179660

資料種別: 図書

著者: Zorian, Yervant.ほか

出版者: IEEE Computer Society

出版年: c2001.

資料形態: 紙

ページ数・大きさ等: viii, 108 p. : ill. ; 28 cm.

NDC: -

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資料に関する注記

一般注記：: Papers."... the ninth in a series of annual workshops ..." -- p. vii.IEEE cat no PR01242.

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書誌情報

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紙

資料種別: 図書
ISBN: 0769512429
0769512437 (case)
0769512445 (microfiche)
ISSN（シリーズ）: 1087-4852
タイトル: 2001 IEEE international workshop on memory technology, design and testing : proceedings : August 6-7, 2001 : San Jose, California, USA. : MTDT 2001 : Aug 2001, San Jose, CA.
シリーズタイトル: Memory Technology, Design and Testing
著者標目: Zorian, Yervant.
IEEE International Workshop on Memory Technology, Design and Testing (9th : 2001 : San Jose, California)
出版事項: Los Alamitos : IEEE Computer Society
出版年月日等: c2001.
出版年（W3CDTF）: 2001
数量: viii, 108 p. : ill. ; 28 cm.
並列タイトル等: Records of the 2001 IEEE international workshop on memory technology, design and testing
出版地（国名コード）: US
本文の言語コード: eng
件名標目: Semiconductor storage devices -- Testing -- Congresses.
Random access memory -- Congresses.
NDLC: M17
一般注記: Papers.
"... the ninth in a series of annual workshops ..." -- p. vii.
IEEE cat no PR01242.
書誌注記: Includes bibliographic references and author index.
別の媒体に関する注記: Also available via the World Wide Web.
所蔵機関: 国立国会図書館
請求記号: M17-03-2017
連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書
https://ndlsearch.ndl.go.jp
書誌ID（NDLBibID）: 000004179660
http://id.ndl.go.jp/bib/000004179660
RLIN番号: NYCGATP9223-B
整理区分コード: 215