19th IEEE VLSI test symposium : VTS 2001 : proceedings : April 29-3 May 2001 : Marina Del Rey, California USA. : Apr 2001, Marina Del Rey, CA. (IEEE VLSI Test Symposium)

19th IEEE VLSI test symposium : VTS 2001 : proceedings : April 29-3 May 2001 : Marina Del Rey, California USA. : Apr 2001, Marina Del Rey, CA.

(IEEE VLSI Test Symposium)

国立国会図書館請求記号: M17-03-2506
国立国会図書館書誌ID: 000004187394

資料種別: 図書

著者: IEEE VLSI Test Symposium (19th : 2001 : Marina Del Rey, California)

出版者: IEEE

出版年: c2001.

資料形態: 紙

ページ数・大きさ等: xxxiii, 417 p. : ill. ; 28 cm.

NDC: -

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資料に関する注記

一般注記：: Papers.IEEE cat no PR01122.

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書誌情報

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紙

資料種別: 図書
ISBN: 0769511228
0769511236 (case)
0769511244 (microfiche)
ISSN（シリーズ）: 1093-0167
タイトル: 19th IEEE VLSI test symposium : VTS 2001 : proceedings : April 29-3 May 2001 : Marina Del Rey, California USA. : Apr 2001, Marina Del Rey, CA.
シリーズタイトル: IEEE VLSI Test Symposium
著者標目: IEEE VLSI Test Symposium (19th : 2001 : Marina Del Rey, California)
出版事項: Los Alamitos : IEEE
出版年月日等: c2001.
出版年（W3CDTF）: 2001
数量: xxxiii, 417 p. : ill. ; 28 cm.
出版地（国名コード）: US
本文の言語コード: eng
件名標目: Integrated circuits -- Very large scale integration -- Testing -- Congresses.
NDLC: M17
一般注記: Papers.
IEEE cat no PR01122.
書誌注記: Includes bibliographical references and author index.
別の媒体に関する注記: Also available via the World Wide Web.
所蔵機関: 国立国会図書館
請求記号: M17-03-2506
連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書
https://ndlsearch.ndl.go.jp
書誌ID（NDLBibID）: 000004187394
http://id.ndl.go.jp/bib/000004187394
RLIN番号: NYCGATH2920-B
整理区分コード: 215