GADEST 2001 : proceedings of the 9th international autumn meeting : gettering and defect engineering in semiconductor technology : S. Tecla, Italy September 30-October 3, 2001. : Sep 2001, Catania, Italy.

• 資料種別: 図書
• ISBN: 3908450640
• ISSN（シリーズ）: 0377-6883.
• タイトル: GADEST 2001 : proceedings of the 9th international autumn meeting : gettering and defect engineering in semiconductor technology : S. Tecla, Italy September 30-October 3, 2001. : Sep 2001, Catania, Italy.
• シリーズタイトル: Diffusion and Defect Data, Solid State Data ; Diffusion and Defect Data Part B Solid State Phenomena ; 82-84
• 著者標目: CNR-IMETEM.; Raineri, V. (Vito); International Autumn Meeting "Gettering and Defect Engineering in Semiconductor Technology" (9th : 2001 : S. Tecla, Italy)
• 出版事項: Uetikon-Zurich : Sci-Tech Pub.
• 出版年月日等: c2002.
• 出版年（W3CDTF）: 2002
• 数量: xviii, 823 p. : ill. ; 25 cm.
• 出版地（国名コード）: CH
• 本文の言語コード: eng
• 件名標目: Semiconductors -- Defects -- Congresses.; Getters -- Congresses.; Silicon crystals -- Defects -- Congresses.; Electric engineering -- Materials -- Congresses.
• LCC: TK7871.85
• DDC: 621.3815/2
• NDLC: M17
• 一般注記: Papers.
• 書誌注記: Includes bibliographical references and indexes.
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: M17-03-2802
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 000004194456; http://id.ndl.go.jp/bib/000004194456
• LC control number: 2002265757; https://lccn.loc.gov/2002265757
• RLIN番号: DCLC2002265757-B
• 整理区分コード: 215