Optical system contamination: effects, measurements, and control 7 : 9-11 July 2002 : Seattle, USA. : Jul 2002, Seattle, WA. (SPIE Proceedings ; 4774)

Optical system contamination: effects, measurements, and control 7 : 9-11 July 2002 : Seattle, USA. : Jul 2002, Seattle, WA.

(SPIE Proceedings ; 4774)

国立国会図書館請求記号: M17-03-4394
国立国会図書館書誌ID: 000004206991

資料種別: 図書

著者: Boeing Company.ほか

出版者: SPIE

出版年: c2002.

資料形態: 紙

ページ数・大きさ等: vii, 282 p. : ill. ; 28 cm.

NDC: -

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一般注記：: Papers.

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書誌情報

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紙

資料種別: 図書
ISBN: 081944541X
ISSN（シリーズ）: 0277-786X
タイトル: Optical system contamination: effects, measurements, and control 7 : 9-11 July 2002 : Seattle, USA. : Jul 2002, Seattle, WA.
シリーズタイトル: SPIE Proceedings ; 4774
タイトル標目: Proceedings of SPIE -- the International Society for Optical Engineering ; v. 4774.
著者標目: Boeing Company.
Chen, Philip T.
Uy, O. Manuel.
出版事項: Bellingham : SPIE
出版年月日等: c2002.
出版年（W3CDTF）: 2002
数量: vii, 282 p. : ill. ; 28 cm.
出版地（国名コード）: US
本文の言語コード: eng
件名標目: Space vehicles -- Optical equipment -- Congresses.
Space vehicles -- Contamination -- Congresses.
Space environment -- Congresses.
NDLC: M17
一般注記: Papers.
書誌注記: Includes bibliographic references and author index.
所蔵機関: 国立国会図書館
請求記号: M17-03-4394
連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書
https://ndlsearch.ndl.go.jp
書誌ID（NDLBibID）: 000004206991
http://id.ndl.go.jp/bib/000004206991
RLIN番号: NYCGAVA9714-B
整理区分コード: 215