Stress-induced phenomena in metallization : sixth international workshop on stress-induced phenomena in metallization : Ithaca, New York 25-27 July 2001. : Jul 2001, Ithaca, NY.

• 資料種別: 図書
• ISBN: 073540058X
• ISSN（シリーズ）: 0094-243X
• タイトル: Stress-induced phenomena in metallization : sixth international workshop on stress-induced phenomena in metallization : Ithaca, New York 25-27 July 2001. : Jul 2001, Ithaca, NY.
• シリーズタイトル: AIP Conference Proceedings ; 612
• タイトル標目: AIP conference proceedings ; no. 612.
• 著者標目: Baker, Shefford P.; International Workshop on Stress-Induced Phenomena in Metallization (6th : 2001 : Ithaca, N.Y.)
• 出版事項: Melville : American Institute of Physics
• 出版年月日等: c2002.
• 出版年（W3CDTF）: 2002
• 数量: ix, 250 p. : ill. ; 25 cm.
• 並列タイトル等: Stress-induced phenomena in metallization : 6th international workshop on stress-induced phenomena in metallization : Ithaca, New York 25-27 July 2001
• 出版地（国名コード）: US
• 本文の言語コード: eng
• 件名標目: Semiconductors -- Defects -- Congresses.; Metallic films -- Congresses.; Thin film devices -- Defects -- Congresses.; Aluminum films -- Congresses.; Metallizing -- Congresses.
• NDLC: M17
• 一般注記: Papers.
• 書誌注記: Includes bibliographical references and indexes.
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: M17-03-3659
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 000004207920; http://id.ndl.go.jp/bib/000004207920
• LC control number: 2002102851; https://lccn.loc.gov/2002102851
• RLIN番号: NYCGAUS8276-B
• 整理区分コード: 215