図書

Eighteenth annual IEEE semiconductor thermal measurement and management symposium : SEMI-THERM : proceedings 2002 : San Jose, CA USA : March 12-14, 2002 : sessions: (...). : Mar 2002, San Jose, CA.

図書を表すアイコン

Eighteenth annual IEEE semiconductor thermal measurement and management symposium : SEMI-THERM : proceedings 2002 : San Jose, CA USA : March 12-14, 2002 : sessions: (...). : Mar 2002, San Jose, CA.

国立国会図書館請求記号
M17-03-3929
国立国会図書館書誌ID
000004218756
資料種別
図書
著者
IEEE Semiconductor Thermal Measurement and Management Symposium (18th : 2002 : San Jose, California)
出版者
IEEE
出版年
c2002.
資料形態
ページ数・大きさ等
xii, 196 p. : ill. ; 28 cm.
NDC
-
すべて見る

資料に関する注記

一般注記:

Papers.IEEE cat no 02CH37311 (softbound edition) , 02CD37311C (CD-ROM edition)Title on cover.

書店で探す

書誌情報

この資料の詳細や典拠(同じ主題の資料を指すキーワード、著者名)等を確認できます。

資料種別
図書
ISBN
0780373278 (softbound edition)
0780373286 (CD-ROM edition)
ISSN
1065-2221
出版事項
出版年月日等
c2002.
出版年(W3CDTF)
2002
数量
xii, 196 p. : ill. ; 28 cm.
並列タイトル等
18th annual IEEE semiconductor thermal measurement and management symposium : SEMI-THERM : proceedings 2002 : San Jose, CA USA : March 12-14, 2002 : sessions: (...)