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Atomic force microscopy/scanning tunneling microscopy. : 1st U.S. Army Natick Research, Development and Engineering Center atomic force microscopy/scanning tunneling microscopy (AFM/STM) symposium : Jun 1993, Natick, MA.

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Atomic force microscopy/scanning tunneling microscopy. : 1st U.S. Army Natick Research, Development and Engineering Center atomic force microscopy/scanning tunneling microscopy (AFM/STM) symposium : Jun 1993, Natick, MA.

国立国会図書館請求記号
M17-03-5000
国立国会図書館書誌ID
000004247154
資料種別
図書
著者
Cohen, Samuel H.ほか
出版者
Plenum Press
出版年
c1994.
資料形態
ページ数・大きさ等
x, 453 p. : ill. ; 26 cm.
NDC
-
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資料に関する注記

一般注記:

Papers.

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書誌情報

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資料種別
図書
ISBN
0306448904
出版年月日等
c1994.
出版年(W3CDTF)
1994
数量
x, 453 p. : ill. ; 26 cm.
出版地(国名コード)
US
本文の言語コード
eng