Atomic force microscopy/scanning tunneling microscopy 2. : 2nd U.S. Army Soldier Systems Command, Natick Research, Development and Engineering Center atomic force microscopy/scanning tunneling microscopy (AFM/STM) symposium : Jun 1994, Natick, MA.

Atomic force microscopy/scanning tunneling microscopy 2. : 2nd U.S. Army Soldier Systems Command, Natick Research, Development and Engineering Center atomic force microscopy/scanning tunneling microscopy (AFM/STM) symposium : Jun 1994, Natick, MA.

国立国会図書館請求記号: M17-03-5003
国立国会図書館書誌ID: 000004247162

資料種別: 図書

著者: Cohen, Samuel H.ほか

出版者: Plenum Press

出版年: c1997.

資料形態: 紙

ページ数・大きさ等: ix, 250 p. : ill. ; 26 cm.

NDC: -

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一般注記：: Papers.

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書誌情報

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紙

資料種別: 図書
ISBN: 030645596X
タイトル: Atomic force microscopy/scanning tunneling microscopy 2. : 2nd U.S. Army Soldier Systems Command, Natick Research, Development and Engineering Center atomic force microscopy/scanning tunneling microscopy (AFM/STM) symposium : Jun 1994, Natick, MA.
著者標目: Cohen, Samuel H.
Lightbody, Marcia L.
U.S. Army Soldier Systems Command, Natick Research, Development and Engineering Center Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy (AFM/STM) Symposium (2nd : 1994 : Natick, Mass.)
出版事項: New York : Plenum Press
出版年月日等: c1997.
出版年（W3CDTF）: 1997
数量: ix, 250 p. : ill. ; 26 cm.
出版地（国名コード）: US
本文の言語コード: eng
件名標目: Atomic force microscopy.
Scanning tunneling microscopy.
LCC: QH212.A78
DDC: 502/.8/2
NDLC: M17
一般注記: Papers.
書誌注記: Includes bibliographical references and index.
所蔵機関: 国立国会図書館
請求記号: M17-03-5003
連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書
https://ndlsearch.ndl.go.jp
書誌ID（NDLBibID）: 000004247162
http://id.ndl.go.jp/bib/000004247162
LC control number: 97009548
https://lccn.loc.gov/97009548
RLIN番号: DCLC979548-B
整理区分コード: 215