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Atomic force microscopy/scanning tunneling microscopy 3. : SCANNING 98 : AFM/STM symposium : 3rd annual atomic force microscopy/scanning tunneling microscopy symposium : May 1998, Baltimore, MD.

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Atomic force microscopy/scanning tunneling microscopy 3. : SCANNING 98 : AFM/STM symposium : 3rd annual atomic force microscopy/scanning tunneling microscopy symposium : May 1998, Baltimore, MD.

国立国会図書館請求記号
M17-03-5005
国立国会図書館書誌ID
000004247167
資料種別
図書
著者
Cohen, Samuel H.ほか
出版者
Kluwer Academic/Plenum Publishers
出版年
c1999.
資料形態
ページ数・大きさ等
viii, 210 p. : ill. ; 26 cm.
NDC
-
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資料に関する注記

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Papers.

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書誌情報

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資料種別
図書
ISBN
0306462974
出版年月日等
c1999.
出版年(W3CDTF)
1999
数量
viii, 210 p. : ill. ; 26 cm.
出版地(国名コード)
US
本文の言語コード
eng