Optical measurement systems for industrial inspection 2: application in industrial design : 18-19 June 2001 : Munich, Germany. : Jun 2001, Munich, Germany. (SPIE Proceedings ; 4398)

Optical measurement systems for industrial inspection 2: application in industrial design : 18-19 June 2001 : Munich, Germany. : Jun 2001, Munich, Germany.

(SPIE Proceedings ; 4398)

国立国会図書館請求記号: M17-03-4978
国立国会図書館書誌ID: 000004247620

資料種別: 図書

著者: Osten, Wolfgang.ほか

出版者: SPIE

出版年: c2001.

資料形態: 紙

ページ数・大きさ等: ix, 304 p. : ill. ; 28 cm.

NDC: -

すべて見る

資料に関する注記

一般注記：: Papers.

書店で探す

書誌情報

この資料の詳細や典拠（同じ主題の資料を指すキーワード、著者名）等を確認できます。

紙

資料種別: 図書
ISBN: 0819440930
ISSN（シリーズ）: 0277-786X
タイトル: Optical measurement systems for industrial inspection 2: application in industrial design : 18-19 June 2001 : Munich, Germany. : Jun 2001, Munich, Germany.
シリーズタイトル: SPIE Proceedings ; 4398
タイトル標目: Proceedings of SPIE -- the International Society for Optical Engineering ; v. 4398.
著者標目: Osten, Wolfgang.
Jüptner, Werner P. O.
Kujawińska, Małgorzata.
出版事項: Bellingham : SPIE
出版年月日等: c2001.
出版年（W3CDTF）: 2001
数量: ix, 304 p. : ill. ; 28 cm.
出版地（国名コード）: US
本文の言語コード: eng
件名標目: Quality control -- Optical methods -- Congresses.
Optical instruments -- Industrial applications -- Congresses.
Optical detectors -- Industrial applications -- Congresses.
LCC: TS156.2
DDC: 670.42/5
NDLC: M17
一般注記: Papers.
書誌注記: Includes bibliographic references and author index.
所蔵機関: 国立国会図書館
請求記号: M17-03-4978
連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書
https://ndlsearch.ndl.go.jp
書誌ID（NDLBibID）: 000004247620
http://id.ndl.go.jp/bib/000004247620
LC control number: 2002265281
https://lccn.loc.gov/2002265281
RLIN番号: DCLC2002265281-B
整理区分コード: 215