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Lightmetry: metrology, spectroscopy, and testing techniques using light : 5-8 June 2000 : Pultusk, Poland. : SPIE-PL conference : Jun 2000, Pultusk, Poland. (SPIE Proceedings ; 4517) (SPIE Poland Chapter Proceedings ; 58)

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Lightmetry: metrology, spectroscopy, and testing techniques using light : 5-8 June 2000 : Pultusk, Poland. : SPIE-PL conference : Jun 2000, Pultusk, Poland.

(SPIE Proceedings ; 4517) (SPIE Poland Chapter Proceedings ; 58)

国立国会図書館請求記号
M17-03-4921
国立国会図書館書誌ID
000004247882
資料種別
図書
著者
SPIE Poland Chapter.ほか
出版者
SPIE
出版年
c2001.
資料形態
紙
ページ数・大きさ等
xxiii, 302 p. : ill. ; 28 cm.
NDC
-
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Papers.

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書誌情報

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紙

資料種別
図書
ISBN
0819442402
ISSN（シリーズ）
0277-786X
タイトル
Lightmetry: metrology, spectroscopy, and testing techniques using light : 5-8 June 2000 : Pultusk, Poland. : SPIE-PL conference : Jun 2000, Pultusk, Poland.
シリーズタイトル
SPIE Proceedings ; 4517
SPIE Poland Chapter Proceedings ; 58
タイトル標目
Proceedings of SPIE -- the International Society for Optical Engineering ; v. 4517.
著者標目
SPIE Poland Chapter.
Pluta, Maksymilian.
Szyjer, Mariusz.
Powichrowska, Ewa.
Institute of Applied Optics, Poland.
出版事項
Bellingham : SPIE
出版年月日等
c2001.
出版年（W3CDTF）
2001