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目次
71(5) (通号 845) 2005.5
- 波長走査干渉計による多面干渉計測手法の開発
p.579~583
- ピエゾ素子とVCMを備えた除振装置の除振条件に関する一考察
p.584~589
- 光触針式輪郭測定における傾斜測定誤差の補正法
p.590~594
- 低熱膨張ガラス製長尺ブロックゲージの光波干渉計による校正不確かさの評価
p.602~605
71(2) (通号 842) 2005.2
- 全方位Hough変換を利用した3次元空間の点復元
p.205~210
- 本質的対立に着目した新たなIPDPの提案
p.216~222
- 細分化と簡略化に基づく三角形メッシュの品質改善
p.223~227
71(6) (通号 846) 2005.6
- 単結晶シリコン表面のレーザパターニング
p.729~733
- MQL溝入れ加工におけるミストの流れと工具摩耗
p.734~738
71(1) (通号 841) 2005.1
- 色対比を考慮した電子ディスプレイ色むら評価モデル
p.89~93
- 組合せHough変換による画像内長方形物体検出
p.94~98
- 冷風研削加工における先細末広ノズルの噴流冷却特性の評価
p.99~104
71(4) (通号 844) 2005.4
- 基板励振による薄膜の残留応力制御の機構
p.460~465
71(3) (通号 843) 2005.3
- 400mmシリコンウェハの非接触静電浮上
p.342~346
- イオンビーム支援蒸着法で形成した窒化炭素薄膜の破壊特性
p.352~357
- 当たり面認識装置を含む自動きさげ盤の開発(第3報)自動きさげ盤の構成
p.358~362