18th IEEE international symposium on defect and fault tolerance in VLSI systems : proceedings : 3-5 November 2003 : Boston, Massachusetts. : DFT 2003 : Nov 2003, Boston, MA. (Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems)

18th IEEE international symposium on defect and fault tolerance in VLSI systems : proceedings : 3-5 November 2003 : Boston, Massachusetts. : DFT 2003 : Nov 2003, Boston, MA.

(Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems)

国立国会図書館請求記号: M17-04-1469
国立国会図書館書誌ID: 000004334588

資料種別: 図書

著者: IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems (18th : 2003 : Boston, Massachusetts)

出版者: IEEE Computer Society Press

出版年: c2003.

資料形態: 紙

ページ数・大きさ等: xii, 607 p. : ill. ; 23 cm.

NDC: -

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資料に関する注記

一般注記：: Papers.IEEE cat no PR02042.

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書誌情報

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紙

資料種別: 図書
ISBN: 0769520421
ISSN（シリーズ）: 1063-6722
タイトル: 18th IEEE international symposium on defect and fault tolerance in VLSI systems : proceedings : 3-5 November 2003 : Boston, Massachusetts. : DFT 2003 : Nov 2003, Boston, MA.
シリーズタイトル: Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems
著者標目: IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems (18th : 2003 : Boston, Massachusetts)
出版事項: Los Alamitos : IEEE Computer Society Press
出版年月日等: c2003.
出版年（W3CDTF）: 2003
数量: xii, 607 p. : ill. ; 23 cm.
出版地（国名コード）: US
本文の言語コード: eng
件名標目: Integrated circuits -- Very large scale integration -- Design and construction. -- Congresses.
Fault-tolerant computing -- Congresses.
NDLC: M17
一般注記: Papers.
IEEE cat no PR02042.
書誌注記: Includes bibliographic references and author index.
別の媒体に関する注記: Also available via the World Wide Web.
所蔵機関: 国立国会図書館
請求記号: M17-04-1469
連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書
https://ndlsearch.ndl.go.jp
書誌ID（NDLBibID）: 000004334588
http://id.ndl.go.jp/bib/000004334588
RLIN番号: MOHG53620221-B
整理区分コード: 215