Characterization of poly(tetrafluoroethylene) surfaces by atomic force microscopy - results and artifacts

• 資料種別: 規格・テクニカルリポート類
• タイトル: Characterization of poly(tetrafluoroethylene) surfaces by atomic force microscopy - results and artifacts
• 著者・編者: Howard, A. J; Rye, R. R; Kjoller, K
• 出版年月日等: 1994
• 出版年（W3CDTF）: 1994
• 数量: 12 p. (1 microfiche)
• 資料種別（注記）: [microform]
• リポート番号: テクニカルリポート番号 : SAND-94-1129C; テクニカルリポート番号 : DE95 000742; テクニカルリポート番号 : CONF-94062681
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: LS-DE95/000742
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 000005508306; http://id.ndl.go.jp/bib/000005508306
• 整理区分コード: 291