Reciprocal space mapping of epitaxial materials using position-sensitive x-ray detection

• 資料種別: 規格・テクニカルリポート類
• タイトル: Reciprocal space mapping of epitaxial materials using position-sensitive x-ray detection
• 著者・編者: Lee, S. R; Doyle, B. L; Drummond, T. J; Medernach, J. W; Schneider, R. P
• 出版年月日等: 1994
• 出版年（W3CDTF）: 1994
• 数量: 14 p. (1 microfiche)
• 資料種別（注記）: [microform]
• リポート番号: テクニカルリポート番号 : SAND-94-1071C; テクニカルリポート番号 : DE95 001620; テクニカルリポート番号 : CONF-94081781
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: LS-DE95/001620
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 000005511341; http://id.ndl.go.jp/bib/000005511341
• 整理区分コード: 291