Residual stress, strain, and faults in nanocrystalline palladium and copper

• 資料種別: 規格・テクニカルリポート類
• タイトル: Residual stress, strain, and faults in nanocrystalline palladium and copper
• 著者・編者: Sanders, P. G; Witney, A. B; Weertman, J. R; Valiev, R. Z; Siegel, R. W
• 出版年月日等: 1995
• 出版年（W3CDTF）: 1995
• 数量: 9 p. (1 microfiche)
• 資料種別（注記）: [microform]
• リポート番号: テクニカルリポート番号 : ANL/MSD/CP-83453; テクニカルリポート番号 : DE95 008294; テクニカルリポート番号 : CONF-94114483
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: LS-DE95/008294
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 000005518487; http://id.ndl.go.jp/bib/000005518487
• 整理区分コード: 291