Creep of a fine-grained, fully-lamellar, two-phase TiAl alloy at 760(degree)C

• 資料種別: 規格・テクニカルリポート類
• タイトル: Creep of a fine-grained, fully-lamellar, two-phase TiAl alloy at 760(degree)C
• 著者・編者: Wang, J. N; Schwartz, A. J; Nieh, T. G; Liu, C. T; Sikka, V. K
• 出版年月日等: 1995
• 出版年（W3CDTF）: 1995
• 数量: 9 p. (1 microfiche)
• 資料種別（注記）: [microform]
• リポート番号: テクニカルリポート番号 : UCRL-JC-119681; テクニカルリポート番号 : DE95 009531; テクニカルリポート番号 : CONF-95020111
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: LS-DE95/009531
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 000005520113; http://id.ndl.go.jp/bib/000005520113
• 整理区分コード: 291