Failure characterization of nodular defects in multi-layer dielectric coatings

• 資料種別: 規格・テクニカルリポート類
• タイトル: Failure characterization of nodular defects in multi-layer dielectric coatings
• 著者・編者: Sawicki, R. H; Shang, C. C; Swatloski, T. L
• 出版年月日等: 1994
• 出版年（W3CDTF）: 1994
• 数量: 10 p. (1 microfiche)
• 資料種別（注記）: [microform]
• リポート番号: テクニカルリポート番号 : UCRL-JC-118164; テクニカルリポート番号 : DE95 014124; テクニカルリポート番号 : CONF-94101554
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: LS-DE95/014124
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 000005533121; http://id.ndl.go.jp/bib/000005533121
• 整理区分コード: 291