Fast and slow border traps in MOS devices

• 資料種別: 規格・テクニカルリポート類
• タイトル: Fast and slow border traps in MOS devices
• 著者・編者: Fleetwood, D. M; Warren, W. L; Schwank, J. R; Winokur, P. S; Shaneyfelt, M. R
• 出版年月日等: 1995
• 出版年（W3CDTF）: 1995
• 数量: 3 p. (1 microfiche)
• 資料種別（注記）: [microform]
• リポート番号: テクニカルリポート番号 : SAND-95-1935C; テクニカルリポート番号 : DE95 017550; テクニカルリポート番号 : CONF-9512471
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: LS-DE95/017550
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 000005539841; http://id.ndl.go.jp/bib/000005539841
• 整理区分コード: 291