規格・テクニカルリポート類

Spectroscopic techniques for measuring ion diode space-charge distributions and ion source properties SAND-96-0617C DE96 011683 CONF-9606109

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Spectroscopic techniques for measuring ion diode space-charge distributions and ion source properties

SAND-96-0617C DE96 011683 CONF-9606109

国立国会図書館請求記号
LS-DE96/011683
国立国会図書館書誌ID
000005856413
資料種別
規格・テクニカルリポート類
著者
Filuk, A. Bほか
出版者
-
出版年
1996
資料形態
マイクロ
ページ数・大きさ等
4 p. (1 microfiche)
NDC
-
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書誌情報

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マイクロ

資料種別
規格・テクニカルリポート類
著者・編者
Filuk, A. B
Bailey, J. E
Adams, R. G
出版年月日等
1996
出版年(W3CDTF)
1996
数量
4 p. (1 microfiche)
資料種別(注記)
[microform]
リポート番号
テクニカルリポート番号 : SAND-96-0617C
テクニカルリポート番号 : DE96 011683
テクニカルリポート番号 : CONF-9606109
所蔵機関
国立国会図書館
請求記号
LS-DE96/011683